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SIPDR電阻率測試夾具用于測量超材料和電阻膜的表面阻抗，以及用于半導體晶片的電導率的非接觸式測量；可以測量的薄膜材料范圍包括表面阻抗Rs 20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導電聚合物薄膜。

SPDR介電測試夾具用于測量層狀介電材料的復介電常數，包括LTCC襯底以及沉積在低損耗介電襯底上的鐵電薄膜；