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SIPDR電阻率測試夾具用于測量超材料和電阻膜的表面阻抗，以及用于半導(dǎo)體晶片的電導(dǎo)率的非接觸式測量；可以測量的薄膜材料范圍包括表面阻抗Rs 20kΩ/sq的電阻層、金屬薄膜和導(dǎo)電聚合物薄膜。
更新時間：2024-11-29
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